BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪 l 12 bit A/D201712201730.png l 同时高分辨率采样模式 l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合 l 实时显示光束2D/3D图像 l 测量光束的中心、椭圆度和功率 l Excel数据存储,RS232或TCP/IP数据传输 l 可保存快照图像 l 自动验证分析报告 BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪主要参数: 传感器类型 Si/UV-Si/IR/IRE 光谱范围 Si 350-1100nm UV-Si 190-1100nm IR 800-1800nm IRE 1200-2700nm 刀片数 3(BA3头) 7(BA7头) 光束尺寸范围 BA3-Si和BA3-UV 3µm-5mm BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) 15µm-10mm BA7-Si和BA7-UV(圆形) 15µm-9mm BA3-IR3和BA3-IR3-E 3µm-3mm BA7-IR3和BA7-IR3-E 15µm-3mm BA3-IR5 3µm-5mm BA7-IR5 15µm-5mm 光束宽度分辨率 >100µm 1µm <100µm 0.1µm 光束宽度精确度 ±2% 功率范围 Si和UV-Si探头 10µW-1W(有衰减片) InGaAs探头 10µW-5mW(无衰减片) 功率精确度 Si和UV-Si探头 ±5% InGaAs探头 ±10% 功率分辨率 0.1µW 位置精确度 ±15µm 位置分辨率 1µm 饱和度 Si和UV-Si探头 0.1W/cm2(无衰减片),20W/cm2(NG9) 测量速率 5Hz 温度 0℃-35℃ PC接口 USB2.0